storitvene vsebine
TEM (svetlo{0}}slike, izven-temne-poljske slike, osrednje temne-poljske slike, slike visoke-ločljivosti, slike s šibkim-žarkom temnega-polja); STEM (slike HAADF, slike DF, slike BF, energijski spektri EDS, slike iDPC); difrakcija (selektivna difrakcija, konvergentna-žarkovna difrakcija, nanožarkovna difrakcija)
razred storitve
Sektorji,-povezani s čipi (tovarne rezin, proizvajalci polprevodniške opreme, podjetja za načrtovanje čipov itd.); Sektorji,-povezani z materiali (univerze, raziskovalni inštituti ter podjetja za raziskave in razvoj materialov).
Preskusni cikel
Običajni čas obdelave: 5-7 delovnih dni.
Ozadje storitve
Z okrepljenimi tehnološkimi blokadami v tujini dajejo domača visoko{0}}tehnološka podjetja večji poudarek neodvisnim zmogljivostim raziskav in razvoja čipov, kar je spodbudilo razmah domače proizvodnje polprevodniške opreme. Ker se procesi izdelave čipov še naprej krčijo, se razvoj čipov in polprevodniške opreme vedno bolj opira na mikroskopska analitična orodja, kot je TEM. Transmisijska elektronska mikroskopija (TEM) ima nenadomestljivo vlogo pri raziskavah in razvoju materialov. Zagotavlja kritične mikroskopske strukturne informacije-vključno s kristalnimi strukturami, napakami, elementarnimi sestavami in koncentracijami-ki pomagajo pri analizi lastnosti in obnašanja materiala. Tudi tehnika
olajša študije faznih prehodov in difuzijskih procesov ter ponuja dragocene vpoglede v načrtovanje materialov in optimizacijo.
naše prednosti
Guangdian Metrology je specializirano za tehnologijo testiranja analize TEM, ponaša pa se z-vodilno ekipo strokovnjakov v industriji in napredno opremo za analizo TEM (Talos F200X G2). Ponujamo prilagojene rešitve za testiranje analiz TEM, prilagojene potrebam raziskav in razvoja različnih strank. Naše podjetje ima zmogljivosti analize FIB-TEM za napredne procese do 7nm in manj.
case delež
Priljubljena oznake: tem slikanje in analiza, Kitajska tem slikanje in ponudnik storitev analize
