Vsebina/obseg storitve in predmeti testiranja
a. Vzorci tankih-rezov TEM
Pomembna uporaba mikroskopije z ionskim žarkom z dvojnim-žarkom (DB-FIB) je priprava ultratankih vzorcev za transmisijsko elektronsko mikroskopijo (TEM). GRGTEST Metrology lahko zagotovi naslednje elemente testiranja za to aplikacijo:
Vsebina storitve
|
Preizkusni predmet |
Enota kotacije |
Vrsta vzorca |
|
Vzorec XS na osnovi silicija (Si) (prečni-prerez) Priprava vzorca |
Vsak (ea) |
Napredni procesni čipi pri 14 n in manj; čipov pri 28 nm, 40 nm, 55 nm in več |
|
Vzorec na osnovi silicija (Si) PV (načrt-pogled) Priprava vzorca |
Vsak (ea) |
Napredni procesni čipi pri 14 n in manj; čipov pri 28 nm, 40 nm, 55 nm in več |
|
Vzorec XS brez -silicija (prečni{1}}prerez) Priprava vzorca |
ura (h) |
Vzorci, ki ne temeljijo na siliciju, vključno z galijevim arzenidom (GaAs), galijevim nitridom (GaN), silicijevim karbidom (SiC) itd. |
|
PV vzorca brez -silicija (načrt-pogled) Priprava vzorca |
ura (h) |
Vzorci, ki ne temeljijo na siliciju, vključno z galijevim arzenidom (GaAs), galijevim nitridom (GaN), silicijevim karbidom (SiC) itd. |
|
Posebna priprava vzorcev |
ura (h) |
Različni vzorci novih materialov, vključno z materiali za litijeve baterije, materiali za grafenske elektrode itd. |
b. FA Hotspot Cross{1}}Analysis preseka
|
Preizkusni predmet |
Enota kotacije |
Vrsta vzorca |
|
FA Hotspot Cross{0}}Analysis preseka (vključno z vročimi točkami, zajetimi z metodami, kot je OBIRCH; na voljo je-testiranje na enem mestu, vključno z zajemanjem vročih točk) |
ura (h) |
Vzorci polprevodnikov: rezine, IC, komponente, MEMS, laserji itd. |
c. Konvencionalna obdelava-prereza
|
Preizkusni predmet |
Enota kotacije |
Vrsta vzorca |
|
Ciljna{0}}obdelava presekov |
ura (h) |
Vzorci polprevodnikov: rezine, IC, komponente, PCB, MEMS, laserji itd.; drugi vzorci ne-polprevodnikov |
|
Ne-ciljana-prečna obdelava |
ura (h) |
Vzorci polprevodnikov: rezine, IC, komponente, PCB, MEMS, laserji itd.; drugi vzorci ne-polprevodnikov |
Testni cikel
Standardni cikel testiranja je 3 koledarske dni. Za posebne zahteve lahko ponudimo ponudbe z različnimi odzivnimi časi 48h, 24h in 12h.
Naše prednosti
Člani ekipe GRGTEST Measurement imajo ustrezne izkušnje v naprednih procesih izdelave rezin. Držimo se pristopa,-osredotočenega na stranke, in smo zavezani zagotavljanju natančnih, pravočasnih in celovitih storitev testiranja.
GRGTEST Measurement je največje državno-neodvisno-podjetje za testiranje, ki kotira na Kitajskem. Naša platforma ima zanesljiv mehanizem upravljanja in celovite-zmožnosti testiranja in analize celotnega procesa, kar nam omogoča, da strankam zagotovimo pravočasno in verodostojno analizo za celotne projekte.
Vzorčne zahteve
brezvodni; vzorci ne smejo vsebovati tekočih sestavin; stabilen pri obsevanju z ionskimi žarki (nekaterih organskih vzorcev ni mogoče zaznati); dimenzije na splošno ne presegajo 10 cm * 10 cm * 5 cm (dolžina * širina * višina).
Priljubljena oznake: db-fib (dvojni-žarek osredotočen ionski žarek), Kitajska ponudnik storitev db-fib (dvojni-žarek osredotočen ionski žarek)
