DDR naprave, in sicer dvojna hitrost podatkov sinhronega dinamičnega pomnilnika naključnega dostopa, so nepogrešljiva ključna komponenta v sodobnih elektronskih napravah. Naprave DDR se široko uporabljajo v računalnikih, strežnikih, komunikacijski opremi in nizki porabi energije, z veliko hitrostjo, veliko zmogljivostjo in potrošniško elektroniko. S hitrim razvojem znanosti in tehnologije se naprave DDR nenehno posodabljajo, zahteve glede uspešnosti pa se tudi nenehno izboljšujejo. Njegov test električnih parametrov je postal ključna povezava za zagotavljanje kakovosti izdelka in stabilne zmogljivosti.
Parametri električne zmogljivosti, saj je osnovni opis vedenjskih značilnosti naprav DDR v vezju odražajo integrirano delovanje naprave v različnih delovnih stanjih. Parametri električnih zmogljivosti naprav DDR vključujejo predvsem ključne elemente, kot so delovni tok, delovna frekvenca, urna frekvenca, urna frekvenca, ure Hitrost prenosa podatkov in čas zamude. Ti parametri igrajo odločilno vlogo pri uspešnosti naprav DDR.
Konkretno je velikost delovnega toka neposredno povezana z aplikacijskim okoljem in stopnjo porabe energije naprave DDR; Stopnja frekvence ure in hitrost prenosa podatkov skupaj določata zmogljivost obdelave podatkov naprave DDR; In čas zamude je dejavnik, ki vpliva na hitrost odziva in splošno delovanje sistema.
Zlasti so pokazale pomembne razlike v parametrih električne zmogljivosti in delovnih pogojih. Za vpogled v te razlike se lahko sklicujemo na ustrezne priročnike za naprave. Na primer, na naslednji sliki prikazuje naslovno stran specifikacije naprave DDR. Podrobne parametre električne zmogljivosti in informacije o delovnih pogojih je mogoče dobiti iz knjige Specifikacije. Te informacije so ključne za pravilno izbiro in uporabo naprav DDR.
Glavna testna oprema
V 93000- cth
Funkcije opreme:
1. V 93000- cth je napreden preskusni sistem za avtomatizacijo v super obsegu, zasnovan za testiranje digitalnega logičnega čipa, hibridnega signalnega čipa, sistema SOC na čipu in drugih izdelkov, s široko paleto testov .
2
3. Platforma glede na število digitalnih preskusnih kanalov ima v 93000- cth odlično razširljivost, ki se lahko razširi iz 128 kanalov na 2048 kanalov (z 128 kanali kot minimalno razširitveno enoto).
4. Sistem podpira različne preskusne hitrosti, ujemajoča se kartica PS 9G pa lahko zagotovi preskusno hitrost do 9 Gbps. Poleg tega naprava podpira tudi različne testne hitrosti mešanja digitalnih kanalov, tako da ustreza različnim preskusnim zahtevam.
5. Učinkovita učinkovitost preskusa: V 93000- cth ima odlično preskusno hitrost. V primerjavi s tradicionalno preskusno opremo lahko hitreje dokonča preskusne naloge in tako izboljša učinkovitost preskusa.
Testni primer
Med različnimi električnimi parametri DDR so kritični DC parametri vključevali IDD 0, IDD 1 (delovanje enega bančnega toka), IDD2 (Precharge Current), IDD3 (Active Current), IDD4 (Operating Burst Write/Read Current ), IDD5, IDD6 (Refresh Current), IDD 7 (Operating Bank Interleave Read Current) in IDD 8 (ponastavitev toka) itd., Od katerih je najmanjši delovni tok običajno manjši od deset MA, največji delovni tok lahko doseže A Nekaj sto milliampov.
Ključni parametri AC so TCK (sistemska ura), TAC (DQ Izhodni dostop čas do / iz CK / CK #), TDQSCK (DQS / DQS #Vzpon v / od dviganja CK / CK #) itd., Sistemska ura je Običajno parameter nanosekund in ključni parametri, kot je TDQSCK, so parameter za zamudo picosekunde.
Naslednja skupina je shematični diagram GrgTest, ki testira določeno napravo DDR. Ustrezna testna plošča in testna napeljava se preizkusita z ustrezno konfigurirano platformo ATE.
Na levi strani se testni podatki ključnih parametrov naprave DDR izpolnijo z v 93000- cth; Na desni strani desnice je seznam električnih značilnih parametrov v specifikaciji družbe istega modela.
Tzmožnost EST
GrgTest uvede napredno testno tehnologijo in opremo doma in v tujini ter gradi preizkusno in razvojno sposobnost ključnih parametrov, povezanih z napravami DDR. Poleg tega je GRGTest zavezan tudi razvoju raznovrstnih naprav, kot so digitalni logični čip, hibridni signalni čip in sistemski čip SOC, ki zagotavlja močno preverjanje garancije za raznolik razvoj kitajske industrije čipov in spremstvo nemotenega zagona izdelkov Chip.